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美國(guó)進(jìn)口試驗(yàn)粉塵用于電子產(chǎn)品,特別是連接器的耐塵測(cè)試.試驗(yàn)粉塵燃料污染測(cè)試粉塵有相當(dāng)?shù)慕?jīng)驗(yàn),能滿(mǎn)足英國(guó),歐盟,美國(guó),日本和標(biāo)準(zhǔn)。
美國(guó)進(jìn)口試驗(yàn)粉塵carbon black用于電子產(chǎn)品,特別是連接器的耐塵測(cè)試.試驗(yàn)粉塵燃料污染測(cè)試粉塵有相當(dāng)?shù)慕?jīng)驗(yàn),能滿(mǎn)足英國(guó),歐盟,美國(guó),日本和標(biāo)準(zhǔn)。
美國(guó)進(jìn)口試驗(yàn)粉塵FLY ASH V40046用于電子產(chǎn)品,特別是連接器的耐塵測(cè)試.試驗(yàn)粉塵燃料污染測(cè)試粉塵有相當(dāng)?shù)慕?jīng)驗(yàn),能滿(mǎn)足英國(guó),歐盟,美國(guó),日本和標(biāo)準(zhǔn)。
德國(guó)進(jìn)口粉塵ECE R16: Test Dust用于電子產(chǎn)品,特別是連接器的耐塵測(cè)試.試驗(yàn)粉塵燃料污染測(cè)試粉塵有相當(dāng)?shù)慕?jīng)驗(yàn),能滿(mǎn)足英國(guó),歐盟,美國(guó),日本和標(biāo)準(zhǔn)。
美國(guó)進(jìn)口粉塵ECE R16:EIATP91A Benign Test Dust用于電子產(chǎn)品,特別是連接器的耐塵測(cè)試.
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